二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?答:二次电子像:1)凸出的尖棱,小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多,在荧光屏上这部分的亮度较大。2)平面上的SE产额较小,亮度较低。3)在深凹槽底部尽管能产生较多二次电子,使其不易被控制到,因此相应衬度也较暗。背散射电子像:1)用BE进行形貌分析时,其分辨率远比SE像低。2)BE能量高,以直线轨迹逸出样品表面,对于背向检测器的样品表面,因检测器无法收集到BE而变成一片阴影,因此,其图象衬度很强,衬度太大会失去细节的层次,不利于分析。因此,BE形貌分析效果远不及SE,故一般不用BE信号。