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用电阻应变片测量构件的变形,影响电阻应变片电阻变化的因素有:应变片的()和初始阻值、被测构件的()、以及应变片沿构件的粘贴方向。(因为:△R=KεR,K为灵敏度,R为应变片初始阻值,ε被测构件的应变量)

发布时间:2024-04-19 10:30:39
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